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為力學實驗室儀器而生

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語言

LLH-SI-1XP 一維面內(nèi)位移相移電子散斑干涉儀

電子散斑干涉術是繼全息干涉術之后發(fā)展起來的一種實驗力學新方法。它舍棄了傳統(tǒng)的拍攝沖印照片復雜的濕處理過程,而直接依靠光學成像系統(tǒng)和計算機圖像采集處理系統(tǒng)獲得干涉條紋。這種方法在工程上已得到了較廣泛的運用。用于解決工程中的強度和剛度問題,并可用于殘余應力測量。

一維面內(nèi)位移相移電子散斑干涉儀能實時觀察代表面內(nèi)位移的干涉條紋,也可通過相移技術獲得被測表面的全場位移分布,可滿足實驗室科研和教學的需要。配以穩(wěn)定的懸臂梁加載實驗裝置,使得整個系統(tǒng)穩(wěn)定可靠,易于調(diào)節(jié),能獲得很好的教學效果。

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產(chǎn)品詳情

主要技術指標∶

1.光源∶半導體激光器(綠光),輸出功率20mw,波長532nm

2.相機∶1280×1024 USB2.0數(shù)字攝像頭

3.鏡頭∶25mm定焦鏡頭(標配),可選配其它C接口鏡頭

4.工作距離∶400~800mm

5.條紋分辨率∶1/20級條紋(13.3nm)

6.最大范圍∶200mm×200mm


主要配置∶

主機∶1套

532nm半導體泵浦固體激光器(內(nèi)置):1個

C接口鏡頭 f25mm定焦鏡頭∶1個

攝像頭(內(nèi)置)∶1只

1200mm X800mm 光學平臺∶1套

懸臂梁加載裝置∶1套

圖像采集及處理軟件∶1套


原理示意



應用范圍

可用于面內(nèi)二維位移場的高精度測量:

數(shù)字散斑位移檢測技術已被廣泛地應用于工業(yè)檢測中,用以提高工業(yè)檢測的質(zhì)量和增強對復雜材料性能的認識: 可用來檢測幾厘米甚至幾毫米樣品的面內(nèi);檢測復合生物材料的特性;檢測高溫物體的熱變形;觀察透明液體中的物理現(xiàn)象,如在水溶液或凝膠體中晶體形成過程時密度、濃縮梯度的變化等等。

教學:

用于材料力學和實驗力學課程的實驗教學。


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