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為力學實驗室儀器而生
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為力學實驗室儀器而生
2018-11-20 0
北京信息科技大學購買剪切電子散斑干涉儀用于測量位移導數(shù)。剪切電子散斑干涉術(ESPI)是繼電子散斑干涉術后發(fā)展的一種測量位移導數(shù)的新技術。它與電子散斑干涉術不同的是在光學結構上，后續(xù)的圖象處理系統(tǒng)是相同的。它除了電子散斑干涉術的許多優(yōu)點外，還有光路簡單，對振動隔絕的要求低等特點。另外，它測量的是位移導數(shù)，在自動消除剛體位移的同時對于缺陷受載的應變集中十分靈敏，因此被廣泛地應用于無損檢測(NDT)領域 。
